使用内部实速逻辑－BIST的逻辑模块的自动故障测试

专利权的终止

摘要

使用内置于芯片的实速逻辑－BIST，逻辑模块和具有芯片内部逻辑门的宏接口的自动故障测试的系统和方法。在初始化内部存储元件之后，产生一组测试信号并被该逻辑模块处理。该逻辑模块的输出被累积到一个标记并与参考标记相比较以检测故障。可以使用简单的测试矢量在ATE(自动测试设备)上执行测试，或可以由现场工程师在包括芯片的实际面板上执行。

基本信息

专利标题：

使用内部实速逻辑－BIST的逻辑模块的自动故障测试

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1818701A

申请号：

CN200510113571.7

公开（公告）日：

2006-08-16

申请日：

2005-10-13

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

V·C·穆斯拉巴德R·舍蒂加拉

申请人：

创世纪微芯片公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

刘红

优先权：

CN200510113571.7

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/317

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2015-12-09 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101636684774
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101135717
申请日 : 20051013
授权公告日 : 20100224
终止日期 : 20141013

2010-06-16 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101002978117
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101135717
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 创世纪微芯片公司
变更后权利人 : 塔米拉斯珀私人有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 美国特拉华州
登记生效日 : 20100510

2010-02-24 ：

授权

2007-12-05 ：

实质审查的生效

2006-08-16 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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