一种数字测试向量处理方法
授权
摘要
本发明公开了一种数字测试向量处理方法，包括，上位机运行主控程序，测试向量与期望向量比较产生错误向量，则错误向量计数器开始计数，计数结果通知上位机处理错误向量；采用错误向量地址生成器产生错误向量地址；采用错误向量地址选择器选择错误向量地址作为错误向量存贮器的地址输入，同时错误向量列地址生成器产生的错误向量列地址作为错误向量存贮器的数据输入；错误向量存贮器通知上位机读取存贮结果，处理错误向量。所述方法，只需要处理错误向量，从而节约了存贮空间，可以实现一个通道一个存贮器，真正做到了数字测试中1∶1的设计，使得数字测试处理简单，数字测试速度快，测试夹具简单，测试稳定性提高。
基本信息
专利标题 ：
一种数字测试向量处理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1959426A
申请号 ：
CN200510116893.7
公开（公告）日 ：
2007-05-09
申请日 ：
2005-10-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高雪平文会飞
申请人 ：
中兴通讯股份有限公司
申请人地址 ：
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
王漪
优先权 ：
CN200510116893.7
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2009-07-22 ：
授权
2007-07-04 ：
实质审查的生效
2007-05-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
