配体-受体示踪测定法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明提供基于图像的筛选化合物的方法,该方法基于测量荧光标记的配体的内化。本发明进一步提供了用于高内涵筛选化合物的多位方法,其中测量至少一个细胞参数。

基本信息
专利标题 :
配体-受体示踪测定法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1955715A
申请号 :
CN200510116938.0
公开(公告)日 :
2007-05-02
申请日 :
2005-10-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
C·阿普费尔T·恩德勒S·J·佐夫曼M·莫塞尔
申请人 :
弗·哈夫曼-拉罗切有限公司
申请人地址 :
瑞士巴塞尔
代理机构 :
北京市中咨律师事务所
代理人 :
黄革生
优先权 :
CN200510116938.0
主分类号 :
G01N21/00
IPC分类号 :
G01N21/00  C12Q1/02  G01N33/48  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
2010-07-14 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101003238678
IPC(主分类) : G01N 21/00
专利申请号 : 2005101169380
公开日 : 20070502
2007-06-27 :
实质审查的生效
2007-05-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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