多层光记录介质以及光记录系统的评估方法
专利权的终止
摘要
本发明提供一种可以正确测定层间串扰的影响的多层光记录介质以及使用该介质的记录系统的评估方法，该记录系统的评估方法是，在前述多层光记录介质(12)上预先设置在同一地址下的各记录层(50A、50B、50C)的反射率不同的信号强度测定用区域(52)，测定再现该信号强度测定用区域(52)时的信号强度变化，并作为前述信号强度变化信息，根据该信号强度变化信息不经过各记录层(50A～50C)的其他记录层的状态下的反射率信息，计算出表示记录系统的相干性的相干性参数(m)。
基本信息
专利标题 ：
多层光记录介质以及光记录系统的评估方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1783239A
申请号 ：
CN200510118485.5
公开（公告）日 ：
2006-06-07
申请日 ：
2005-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
塚越拓哉三岛康儿由德大介
申请人 ：
TDK股份有限公司
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
隆天国际知识产权代理有限公司
代理人 ：
高龙鑫
优先权 ：
CN200510118485.5
主分类号 ：
G11B7/00
IPC分类号 ：
G11B7/00 G11B7/24 G06F11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B7/00
用光学方法，例如，用光辐射的热射束记录用低功率光束重现的；为此所用的记录载体
法律状态
2014-12-17 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101591991552
IPC(主分类) : G11B 7/00
专利号 : ZL2005101184855
申请日 : 20051028
授权公告日 : 20101117
终止日期 : 20131028
号牌文件序号 : 101591991552
IPC(主分类) : G11B 7/00
专利号 : ZL2005101184855
申请日 : 20051028
授权公告日 : 20101117
终止日期 : 20131028
2010-11-17 ：
授权
2007-10-10 ：
实质审查的生效
2006-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
