检测装置
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明公开一种检测装置，用以检测一基板，包括一对探针架以及一可挠性连接元件，探针架电连接至基板，可挠性连接元件则电连接探针架。
基本信息
专利标题 ：
检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1758062A
申请号 ：
CN200510124735.6
公开（公告）日 ：
2006-04-12
申请日 ：
2005-11-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈治平
申请人 ：
友达光电股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陈小雯
优先权 ：
CN200510124735.6
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01R1/073 G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2009-03-11 ：
发明专利申请公布后的驳回
2006-06-07 ：
实质审查的生效
2006-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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