检测方法、检测装置、检测系统
公开
摘要
提供一种检测方法、检测装置、检测系统。检测热敏电阻(TH)的不良的检测方法包括：对热敏电阻(TH)经时地提供负荷的步骤(S101)；在对热敏电阻(TH)提供所述负荷的时间中的至少第1时间及第2时间，测定热敏电阻(TH)的物性值的步骤(S102、S104)；以及根据表示在第1时间测定的热敏电阻的物性值的第1数据和表示在第2时间测定的热敏电阻(TH)的物性值的第2数据，检测热敏电阻(TH)的不良的步骤(S108)。
基本信息
专利标题 ：
检测方法、检测装置、检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577365A
申请号 ：
CN202111430079.8
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
内藤公计川崎永士山本康介
申请人 ：
泰星能源解决方案有限公司
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
金春实
优先权 ：
CN202111430079.8
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
