检测方法、装置和系统
公开
摘要
本申请实施例提供了一种检测方法、装置和系统。检测方法，包括：获取粒子穿过待检测对象前经过的至少两个第一位置信息，以及穿过所述待检测对象后经过的至少两个第二位置信息，所述待检测对象为金属制品；基于所述至少两个第一位置信息重建所述粒子穿过所述待检测对象前的第一径迹；基于所述至少两个第二位置信息重建所述粒子穿过所述待检测对象后的第二径迹；对所述第一径迹和所述第二径迹进行处理，得到所述待检测对象的特征信息；根据所述特征信息以及目标类型对象的预设特征信息，确定所述待检测对象的检测结果。根据本申请实施例的检测方法，可以提高检测结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
检测方法、装置和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624261A
申请号 ：
CN202011437355.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曾志李荐民阮明邓艳丽朱国平李君利
申请人 ：
同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
赵秀芹
优先权 ：
CN202011437355.9
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02 G01N23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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