检测系统、检测方法及检测设备
公开
摘要
本申请公开了一种检测系统、检测方法以及检测设备，该检测系统包括：检测元件和处理元件，其中，所述检测元件用于获取设置在检测设备的光路中的光学元件对所述光路中的光线进行处理输出的光信号的性能值；所述处理元件与所述检测元件通信连接，并且配置为基于所述检测元件获取的所述光学元件处理所述光线输出的所述光信号的性能值生成对应的处理指令，以便于在保证所述检测设备的检测精度的前提下，提高光学元件的使用率，进而提高光学元件的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
检测系统、检测方法及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114623858A
申请号 ：
CN202011463593.7
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈鲁方一黄有为魏林鹏张嵩
申请人 ：
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹秀
优先权 ：
CN202011463593.7
主分类号 ：
G01D21/00
IPC分类号 ：
G01D21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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