检测系统、检测方法以及检测设备
公开
摘要
本申请实施例公开了一种检测系统、检测方法以及检测设备，该检测系统包括：光学元件、检测元件和处理元件，其中，所述光学元件设置在所述检测系统的光路中，用于对所述光路中的光线进行处理，输出光信号；所述检测元件用于获取所述光学元件处理所述光线输出的所述光信号的性能值；所述处理元件其与所述检测元件通信连接，并且配置为基于所述检测元件获取的所述光学元件处理所述光线输出的所述光信号的性能值生成对应的处理指令，以便于在保证所述检测系统的检测精度的前提下，提高光学元件的使用率，进而提高光学元件的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
检测系统、检测方法以及检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624254A
申请号 ：
CN202011460075.X
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈鲁方一黄有为魏林鹏张嵩
申请人 ：
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹秀
优先权 ：
CN202011460075.X
主分类号 ：
G01N21/958
IPC分类号 ：
G01N21/958
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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