信息检测方法、装置及系统
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摘要

本发明实施例公开了一种信息检测方法,该方法包括:通过电荷耦合器件CCD相机获取被检工件的多张相机图像,以及通过探测器和X射线源获取所述被检工件的多张康普顿散射图像,其中,所述多张相机图像包括所述被检工件的干扰信息,所述康普顿散射图像包括所述被检工件的所述干扰信息以及近表面散射信息;对所述多张相机图像以及所述多张康普顿散射图像进行处理,获得不包括所述被检工件的干扰信息的无表面干扰检测图像,其中,所述无表面干扰检测图像包括所述被检工件的缺陷的投影信息;使用预先训练好的深度神经网络模型,对所述无表面干扰检测图像进行检测,获得所述被检工件的缺陷检测结果。本发明实施例能够很便捷地对大型工件进行缺陷检测,且灵敏度较高。

基本信息
专利标题 :
信息检测方法、装置及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110286138A
申请号 :
CN201910494852.3
公开(公告)日 :
2019-09-27
申请日 :
2019-06-10
授权号 :
CN110286138B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
舒远倪一帆王星泽
申请人 :
合刃科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道海天一路19号深圳市软件产业基地4栋A座1102
代理机构 :
深圳市新虹光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郭长龙
优先权 :
CN201910494852.3
主分类号 :
G01N23/20066
IPC分类号 :
G01N23/20066  G01N23/20008  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20066
通过测量伽马射线的非弹性散射,如康普顿效应
法律状态
2022-04-01 :
授权
2019-10-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20066
申请日 : 20190610
2019-09-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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