用来测试电子产品的智慧型测试系统及其相关方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
智慧型测试系统包含一控制器，用来产生设定数据，以及一测试器，用来测试一电子产品。该测试器包含一处理装置，用来根据该控制器产生之设定数据传送测试信号至该电子产品，以及根据该控制器产生之设定数据和该电子产品因根据该测试信号所产生之回授数据控制该智慧型测试装置；以及一存储器，用来记录该电子产品产生之回授数据。
基本信息
专利标题 ：
用来测试电子产品的智慧型测试系统及其相关方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1979192A
申请号 ：
CN200510128881.6
公开（公告）日 ：
2007-06-13
申请日 ：
2005-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴宜昌陈怡勋詹森达
申请人 ：
纬创资通股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省台北县221汐止市新台五路一段88号21F
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈亮
优先权 ：
CN200510128881.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2010-08-04 ：
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101003710081
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利申请号 : 2005101288816
公开日 : 20070613
号牌文件序号 : 101003710081
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利申请号 : 2005101288816
公开日 : 20070613
2007-08-08 ：
实质审查的生效
2007-06-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
