电子产品的自动测试系统
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种电子产品的自动测试系统,包括测试主机(1)、信号采集器(2)、通道切换开关(3)和功能切换装置(4),其中:功能切换装置(4)接收测试主机(1)的功能切换信号,根据该信号切换被测产品(8)的待测功能;通道切换开关(3)接收测试主机(1)的通道切换信号,并选通与被测产品(8)的待测功能对应的通道;信号采集器(2)串接测试主机(1)和通道切换开关(3),采集被测产品(8)的待测信号,将待测信号发送给测试主机(1);测试主机(1)根据预设标准分析待测信号,产生测试结果。因为功能切换装置能够在测试主机的控制下切换被测产品的待测功能,实现了方便地测试被测产品的多种功能,提高了效率。
基本信息
专利标题 :
电子产品的自动测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820147438.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-12
授权号 :
CN201340445Y
授权日 :
2009-11-04
发明人 :
刘军张宇
申请人 :
惠州华阳通用电子有限公司
申请人地址 :
516006广东省惠州市仲恺高新技术开发区松山工业园6号小区外
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
朱晓江
优先权 :
CN200820147438.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2017-11-03 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20080912
授权公告日 : 20091104
终止日期 : 20160912
申请日 : 20080912
授权公告日 : 20091104
终止日期 : 20160912
2009-11-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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