一种电子产品老化检测用自动测试机

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种电子产品老化检测用自动测试机，包括机架，所述机架连通有低温管道，所述低温管道的下端贯穿密封罩，所述密封罩内设置有测试机构，所述测试机构的一侧设置有不合格产品回收机构，所述测试机构的后侧设置有CCD耦合机构，所述密封罩的左侧设置有上料机构，所述密封罩的右侧设置有下料机构，所述上料机构和下料机构结构相同，所述机架的内部上端安装有电源，所述电源电性连接有光谱仪，所述光谱仪安装在机架的内部顶端，所述电源电性连接有电脑控制屏，所述电脑控制屏安装在机架的一侧外端。通过上述结构实现对电子产品老化测试的自动上料，检测下料，并对不合格产品自动取出并进行收集，自动化程度高。

基本信息

专利标题：

一种电子产品老化检测用自动测试机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920936174.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-21

授权号：

CN210572526U

授权日：

2020-05-19

发明人：

贝明

申请人：

贝明

申请人地址：

广东省东莞市石碣镇裕田路1号王洲湾1号花园6号楼1802

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201920936174.7

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00