微小区域残余应力的无损检测方法

专利权的终止

摘要

微小区域残余应力的无损检测方法，涉及一种测量方法。现有残余应力测量方法存在耗时长、需要应用高角度衍射峰的缺点。本发明方法为，利用XRD²设备对待测残余应力的样品测量后获得XRD²面探图谱，然后对所得图谱进行处理，得到相应一组(hkl)衍射峰的衍射角(2θ)随着德拜环张角(x)变化的数据{x_l，2θ到相应的直线，由拟合得到直线的斜率与残余应力之间的关系，即可计算出所测量样品该微小区域的残余应力。本发明方法不仅可以实现材料微小区域残余应力的测量，而且可以快速地得到满足精度要求的结果，另外，利用设备可调节X射线有效穿透深度的特点，可获得残余应力沿表面法线方向的分布，利于推广应用。

基本信息

专利标题：

微小区域残余应力的无损检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1793872A

申请号：

CN200510131351.7

公开（公告）日：

2006-06-28

申请日：

2005-12-29

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

费维栋杨帆

申请人：

哈尔滨工业大学

申请人地址：

150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

代理机构：

哈尔滨市松花江专利商标事务所

代理人：

张伟

优先权：

CN200510131351.7

主分类号：

G01N23/20

IPC分类号：

G01N23/20 G06F19/00