一种绝缘阻抗测试方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种绝缘阻抗测试方法，用于测试M条导线彼此间的绝缘阻抗，包括：(a)对第1至第M条的导线，定义M的条件需满足：2n＜M≤2n+1，且n为正整数；(b)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，i的初始值为1，各群的导线数分别为N1，N2，且N1≥N2；(c)将上述2i群中编号数为奇数群及偶数群的导线分别短路；(d)测试奇数群及偶数群的导线间的绝缘阻抗值；(e)当i小于n+1时，将i递增1；当i大于或等于1时，结束此测试方法；(f)将该些M条导线依序分为导线数为最接近的2i群，各群的导线数分别为N1，N2，...N2i，且N1≥N2≥...≥N2i，并重复步骤(c)。
基本信息
专利标题 ：
一种绝缘阻抗测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1987494A
申请号 ：
CN200510136183.0
公开（公告）日 ：
2007-06-27
申请日 ：
2005-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林志南
申请人 ：
达方电子股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园县
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
黄小临
优先权 ：
CN200510136183.0
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R31/02 G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2009-10-07 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-08-22 ：
实质审查的生效
2007-06-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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