用于芯片内抖动注入的系统和方法

授权

摘要

诸如DVI、S－ATA或PCI－Express之类的高速I/O接口(600)要求昂贵的测试设备。作为一种替代方案，广泛地使用环回测试，但是其缺少时间相关缺陷的覆盖范围。提出了一种使用具有可控幅度(501)和高精确性的可变延迟(203)用于芯片内抖动注入的系统和方法，改善了环回测试的覆盖范围。

基本信息

专利标题：

用于芯片内抖动注入的系统和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101057154A

申请号：

CN200580038643.4

公开（公告）日：

2007-10-17

申请日：

2005-11-14

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

罗杰·弗兰克斯·舒德尔特

申请人：

皇家飞利浦电子股份有限公司

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

陈瑞丰

优先权：

CN200580038643.4

主分类号：

G01R31/3193

IPC分类号：

G01R31/3193 G01R31/319

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/00

电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）

G01R31/08

探测电缆、传输线或网络中的故障

G01R31/14

所用的电路

G01R31/315

使用电感法

G01R31/3187

置入测试

G01R31/3193

通过在实际的响应与已知的无故障响应之间的比较

法律状态

2010-09-29 ：

授权

2008-06-18 ：

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 皇家飞利浦电子股份有限公司
变更后权利人 : NXP股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
登记生效日 : 20080516

2008-01-09 ：

实质审查的生效

2007-10-17 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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