将编程脉冲施加到一组非易失性存储元件。所述编程脉冲的量值选择为足够低以使得非易失性存储元件均不会被过编程。测试所述非易失性存储元件以判定至少一个(或某一其它最小数目)非易失性存储元件是否已被编程超过测试阈值。如果是，那么认为所述组非易失性存储器元件具有一个或一个以上快速编程非易失性存储元件，且使用针对后续编程脉冲的较小增加值来执行将来的编程。如果判定所述组非易失性存储器元件不具有一个或一个以上快速编程非易失性存储元件，那么针对后续编程脉冲使用较大增加值，直到一个(或某一其它最小数目)非易失性存储元件已被编程超过所述测试阈值为止，此时针对后续编程脉冲使用所述较小增加值。