确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
摘要

提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法,以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括:从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目,其中,所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区;和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果,可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息,从而提高驱动器系统的性能。

基本信息
专利标题 :
确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101061537A
申请号 :
CN200580039780.X
公开(公告)日 :
2007-10-24
申请日 :
2005-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄盛凞高祯完成孝振
申请人 :
三星电子株式会社
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 :
韩明星
优先权 :
CN200580039780.X
主分类号 :
G11B7/007
IPC分类号 :
G11B7/007  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B7/00
用光学方法,例如,用光辐射的热射束记录用低功率光束重现的;为此所用的记录载体
G11B7/007
记录载体上信息的排列,例如,轨迹的形式
法律状态
2019-10-25 :
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
专利实施许可合同备案的生效IPC(主分类) : G11B 7/007
合同备案号 : X2019990000006
让与人 : 蓝光联合有限责任公司
受让人 : 深圳市麦思美科技有限公司
发明名称 : 确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
申请日 : 20051117
申请公布日 : 20071024
授权公告日 : 20100317
许可种类 : 普通许可
备案日期 : 20190923
2010-03-17 :
授权
2007-12-19 :
实质审查的生效
2007-10-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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