确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
授权
摘要
提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法，以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括：从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目，其中，所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区；和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果，可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息，从而提高驱动器系统的性能。
基本信息
专利标题 ：
确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101777356A
申请号 ：
CN201010002092.9
公开（公告）日 ：
2010-07-14
申请日 ：
2005-11-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄盛凞高祯完成孝振
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭鸿禧
优先权 ：
CN201010002092.9
主分类号 ：
G11B7/005
IPC分类号 ：
G11B7/005
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B7/00
用光学方法，例如，用光辐射的热射束记录用低功率光束重现的；为此所用的记录载体
G11B7/004
记录、重现或抹除方法；为此所用的读、写或抹除电路
G11B7/005
重现
法律状态
2012-07-04 ：
授权
2010-09-15 ：
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101005739300
IPC(主分类) : G11B 7/005
专利申请号 : 2010100020929
申请日 : 20051117
号牌文件序号 : 101005739300
IPC(主分类) : G11B 7/005
专利申请号 : 2010100020929
申请日 : 20051117
2010-07-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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