对集成电路的物理工作参数进行监视

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摘要

一种集成电路，该电路包括多个检测电路(12)，其中每一个检测电路检测到相应的物理工作参数高于还是低于相应的基准值。该集成电路包含了用于将表示相应基准值的数字数据信号从逐步逼近更新电路(14)移送到检测电路(12)以及将其反向移动到逐步逼近更新电路(14)的串行移位寄存器(11)。检测电路(12)的检测结果则借助数字数据信号而被移送到逐步逼近更新电路(14)。该逐步逼近更新电路(14)被用于形成数字数据，由此这些基准值会在模数转换处理过程中构成物理工作参数值的逐步逼近。这样一来，逐步逼近更新电路(14)将会为多个检测电路(12)所共享。

基本信息

专利标题：

对集成电路的物理工作参数进行监视

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101065678A

申请号：

CN200580040138.3

公开（公告）日：

2007-10-31

申请日：

2005-11-07

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

亨德里克斯·J·M·温德里克马塞尔·佩尔格姆比奥莱塔·彼得雷斯库

申请人：

皇家飞利浦电子股份有限公司

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

宋焰琴

优先权：

CN200580040138.3

主分类号：

G01R31/317

IPC分类号：

G01R31/317 H03M1/46 G01R31/28 G01R31/26

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/317

••数字电路的测试

法律状态

2012-03-21 ：

授权

2008-04-23 ：

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 皇家飞利浦电子股份有限公司
变更后权利人 : NXP股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
登记生效日 : 20080328

2008-01-23 ：

实质审查的生效

2007-10-31 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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