用于自动测量镜片的特性的装置

专利申请权、专利权的转移

摘要

用于自动测量镜片(L1)的特性的测量装置，包括：支架(2)，其被设置来接纳这样的镜片；在所述镜片支架的第一侧上有发光装置(208)，其包括光学系统，用于产生指向在所述支架上安装的镜片的光束；在支架的第二侧上有分析装置(210)，用于分析被安装在所述支架上、并由所述发光装置(208)照射的镜片透射的图像；以及，光束分离装置，其包括第一掩模(202)，用于形成哈特曼阵列等，并且被设置在镜片支架的第一侧上以被在镜片上游的所述光束照射。所述光束分离装置包括至少一个第二掩模(240)，其形成哈特曼阵列等，被设置在镜片支架的第二侧上，以便被所述光束照射，所述掩模(220，240)的至少一个是可至少部分地解除的。

基本信息

专利标题：

用于自动测量镜片的特性的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101069080A

申请号：

CN200580041525.9

公开（公告）日：

2007-11-07

申请日：

2005-11-25

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

F·迪沃

申请人：

埃西勒国际通用光学公司

申请人地址：

法国沙朗通

代理机构：

北京市中咨律师事务所

代理人：

杨晓光

优先权：

CN200580041525.9

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02