检查背光单元的装置
专利权的终止
摘要
本发明提供一种检查一背光单元的装置。在一安装单元上安装一背光单元。一照明单元(lighting unit)辐射均匀光,前述均匀光具有进入前述背光单元且经由前述背光单元内的一光径穿过前述背光单元的薄膜而至前述背光单元的该强度,且前述照明单元允许前述背光单元具有一对应于一点亮状态的状态。一影像拍摄单元(image pickup unit)拍摄在前述背光单元的表面上的一检查区域的一相片,前述检查区域具有对应于由辐射自前述照明单元的光所造成的前述点亮状态的前述状态,且前述影像拍摄单元获得一检查目标影像(inspection target unit)。一影像处理单元(image processing unit)基于输入自前述影像拍摄单元的前述检查目标影像侦测前述背光单元的一缺陷。
基本信息
专利标题 :
检查背光单元的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101076720A
申请号 :
CN200580042527.X
公开(公告)日 :
2007-11-21
申请日 :
2005-12-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李吉宰金玑贤
申请人 :
株式会社MACRON
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿宁
优先权 :
CN200580042527.X
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2018-11-23 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20100505
终止日期 : 20171209
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20100505
终止日期 : 20171209
2010-05-05 :
授权
2008-01-16 :
实质审查的生效
2007-11-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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