测量连续移动样品的样品表面平整度的系统与方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

连续移动样品的样品表面平整度的测量。传送装置连续地传送在相对于传送平面以非0角度放置的光栅之下的样品。样品和倾斜光栅之间的相对距离随样品的水平平移变化。放置在样品和光栅之上的照相机以固定的时间间隔捕获图像序列,每一图像包括指示样品的表面平整度的阴影波纹条纹图。样品和光栅之间的相对距离的连续变化在每一相继图像的阴影波纹条纹图之间引入已知或未知的相位阶跃。与照相机相关联的计算机处理图像以确定样品的所选择像素位置处的像素的相位值和样品表面的相对高度。

基本信息
专利标题 :
测量连续移动样品的样品表面平整度的系统与方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101287960A
申请号 :
CN200580042705.9
公开(公告)日 :
2008-10-15
申请日 :
2005-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
德克·A·兹维摩尔格雷戈里·J.·佩特里科尼肖恩·P.·麦克罗恩潘家辉
申请人 :
阿克罗米特里克斯有限责任公司
申请人地址 :
美国佐治亚
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
郭思宇
优先权 :
CN200580042705.9
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2011-04-06 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101079709271
IPC(主分类) : G01B 11/24
专利申请号 : 2005800427059
公开日 : 20081015
2008-12-10 :
实质审查的生效
2008-10-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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