利用多元光学元件的光学分析校准
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明提供了一种校准光学分析系统的方法,所述光学分析系统利用了多元光信号分析,其能够实现光信号的光谱分析的经济有效的、鲁棒的实施。所述校准方法利用了通过光学分析系统确定参考样本的参数,并将实际确定的参数与参考参数比较,所述参考参数表示参考样本的确切真实特性。基于这一比较能够确定校准值,所述校准值适用于相对于参考样本的至少一种化合物或分析物执行对所述光学分析系统的校准。参考样本的参数和参考参数可以指样本中溶解的分析物的浓度,或者在基于从参考样本获得的光信号执行光谱分析时必须考虑的光谱背景信号。可以普遍采用相对于不同的获取条件以及不同的分析物或化合物浓度提供参考的各种不同的参考样本。优选将分析物特定的参考数据存储在光学分析系统的校准单元内,其能够实现校准过程的高度自动化。

基本信息
专利标题 :
利用多元光学元件的光学分析校准
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101080617A
申请号 :
CN200580043017.4
公开(公告)日 :
2007-11-28
申请日 :
2005-12-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
B·巴克M·范贝克W·伦森
申请人 :
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 :
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
王英
优先权 :
CN200580043017.4
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01N21/35  G01N21/27  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2011-11-30 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101223706303
IPC(主分类) : G01J 3/28
专利申请号 : 2005800430174
公开日 : 20071128
2008-02-13 :
实质审查的生效
2007-11-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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