校准光谱仪的方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

本发明提供了基于光谱仪内自然存在的大气成分的光谱图来校准红外光谱仪的方法。本发明还提供了应用该方法的光谱仪。该方法在所记录光谱内选择光谱图，并确定用于一特性的，取决于波长的位置值，诸如图的中点。将该值和可从校准用仪器所记录的光谱中获取的参考值进行比较，可确定校准公式。优选地将来自CO_2(g)的位于2350cm^－1附近的吸收峰作为所选图。该方法无需使用参考样品，并使得校准和对感兴趣样品的光谱记录同时进行。

基本信息

专利标题：

校准光谱仪的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101084419A

申请号：

CN200580043683.8

公开（公告）日：

2007-12-05

申请日：

2005-12-16

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

H·V·朱尔

申请人：

福斯分析公司

申请人地址：

丹麦希勒勒

代理机构：

北京北翔知识产权代理有限公司

代理人：

杨勇

优先权：

CN200580043683.8

主分类号：

G01J3/453

IPC分类号：

G01J3/453 G01J3/28

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01J

红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法

G01J3/00

光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色

G01J3/28

光谱测试

G01J3/45

干涉光谱法

G01J3/453

利用振幅的相关性

法律状态

2012-06-20 ：

发明专利申请公布后的视为撤回

IPC(主分类) : G01J 3/453
专利申请号 : 2005800436838
公开日 : 20071205
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101382532793

2008-01-23 ：

实质审查的生效

2007-12-05 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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