本发明公开了一种确定来自光学记录介质的所测量的光学信号中的过渡偏移定时的方法，以及所述方法与对于光学记录介质优化写入策略和分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：提供所测量的光学信号的值；提供对应于所测量的光学信号的调制比特；通过光学通道模型计算模型信号；以及从数学模型确定所述前沿和后沿的输出定时。该方法是一种递归方法，其一直继续到满足预定标准为止。最后的输出是如其在所述光学记录介质上的所测量的CA信号的通道比特的平均过渡偏移。所述方法的应用包括(但不限于)：用于确定所述平均过渡偏移的模块，具有用于根据所述平均过渡偏移来调节所述写入策略的装置的光学记录设备，以及用于控制光学记录设备的IC。