用于确定无线装置的辐射性能的系统、方法和设备
专利权的终止
摘要

系统、方法、设备、处理器和计算机可读介质包括辐射测试模块,所述辐射测试模块对无线装置执行预定辐射性能测试。该测试指示在多个预定位置中的每个位置处测量并记录多种性能相关参数。此外,该无线装置接收用于在所记录的测量值和每个位置之间实现同步的同步信息。同步日志允许该无线装置或另一个设备基于预定分析协议来确定辐射性能特征。此外,所述实施例能够在单个测试中使用单个未更改的无线装置确定若干辐射性能特征。

基本信息
专利标题 :
用于确定无线装置的辐射性能的系统、方法和设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101088016A
申请号 :
CN200580044478.3
公开(公告)日 :
2007-12-12
申请日 :
2005-10-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
E·T·奥萨基K·福克P·M·泽肯多夫T·M·卡塞特P·蒂尔尼G·A·布赖特J·李
申请人 :
高通股份有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
王英
优先权 :
CN200580044478.3
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  H04Q7/34  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2016-12-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101692404330
IPC(主分类) : G01R 29/10
专利号 : ZL2005800444783
申请日 : 20051025
授权公告日 : 20100224
终止日期 : 20151025
2010-02-24 :
授权
2008-02-06 :
实质审查的生效
2007-12-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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