一种用于手机辐射性能的测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于手机辐射性能的测试系统，包括：电波暗室；设置于所述电波暗室内的待测物放置台；以所述待测物放置台为圆心设置的圆形轨道，设置于所述圆形轨道上与增益天线相连的极化转轴，所述极化转轴能带动所述增益天线沿所述圆形轨道旋转运动；模拟基地台，所述模拟基地台与放置于所述待测物放置台上的待测物信号连接；与所述电波暗室信号连接的信号分析单元，所述信号分析单元能用于对所述待测物的辐射信号进行分析；其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。该系统能够实现在全自动环境下对手机辐射性能进行测试，减少人为因素的干扰，实现全方位的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种用于手机辐射性能的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020689971.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-29
授权号 ：
CN212381261U
授权日 ：
2021-01-19
发明人 ：
张博
申请人 ：
德凯认证服务（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区宏业路99号
代理机构 ：
苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周子轶
优先权 ：
CN202020689971.2
主分类号 ：
H04M1/24
IPC分类号 ：
H04M1/24 G01R29/08
法律状态
2021-01-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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