一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置
授权
摘要
本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置，包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置，所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口，所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管，所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面，所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本，提高测试准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020288490.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-10
授权号 ：
CN212845134U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
陈剑洪陈余良杨美玉庄子哲刘跃军钟海长郑伟
申请人 ：
厦门理工学院
申请人地址 ：
福建省厦门市集美区理工路600号
代理机构 ：
泉州劲翔专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
许珠珍
优先权 ：
CN202020288490.0
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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