一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置
授权
摘要
本发明涉及辐射制冷技术领域,尤其是涉及的是一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置,包括金属罐体、支撑架、测温装置,所述金属罐体倾斜设置在支撑架上,所述金属罐体内设置有罐体空腔、液体腔,所述液体腔设置在罐体空腔之上,所述金属罐体的一侧设置有与液体腔相连通的开口,所述开口的口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配,所述开口处向金属罐体外延伸设置有长颈,所述测温装置热电偶感温端沿着长颈穿过开口伸入液体腔内,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈有优弧面。本发明结构简单,构造巧妙,制作成本低,密封性良好,热量传递快速有效,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本。
基本信息
专利标题 :
一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020289180.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-10
授权号 :
CN212159633U
授权日 :
2020-12-15
发明人 :
陈剑洪陈余良杨美玉庄子哲刘跃军钟海长郑伟陈曦
申请人 :
厦门理工学院
申请人地址 :
福建省厦门市集美区理工路600号
代理机构 :
泉州劲翔专利事务所(普通合伙)
代理人 :
许珠珍
优先权 :
CN202020289180.0
主分类号 :
G01N25/20
IPC分类号 :
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化,即量热法,例如通过测量比热,测量热导率
法律状态
2020-12-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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