一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，包括上端开口的隔热箱体，该开口端采用透明隔绝罩密封，沿着箱体的纵向方向所述隔热箱体的内部被自上而下的分隔为传导区和对流区；还包括设置在箱体内部的承载板和安装在承载板下方的高度调节机构，所述高度调节机构用于调节所述承载板在箱体中的位置高度；在所述承载板的上表面按矩形阵列分布的形式开设若干个薄膜槽，每个薄膜槽的底部安装有热电偶探头，所述的热电偶探头的信号输出端与数据记录仪相连。本测试装置能够一次性执行对多个辐射制冷薄膜样片的测试，同时通过上下移动的承载板能够实现在不同热对流系数条件下的降温测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021804250.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN212483433U
授权日 ：
2021-02-05
发明人 ：
詹耀辉马鸿晨戴明光
申请人 ：
苏州融睿纳米复材科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区通安镇同心路58号
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
董建林
优先权 ：
CN202021804250.8
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2021-02-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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