分析设备
授权
摘要
一种离子迁移谱仪或其它分析仪器具有用以使样品气体或蒸气产生电离的电晕放电针(20)。门(3)被打开或关闭从而允许和防止通过电晕放电所产生的离子进入漂移室(4)中。对电晕放电针(20)和门(3)的工作进行控制，从而使得所述门在至少两次放电过程中被打开，从而允许通过最近放电所产生的更快的离子连同通过较早放电所产生的较慢的离子一起通过。
基本信息
专利标题 ：
分析设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101120247A
申请号 ：
CN200580047388.X
公开（公告）日 ：
2008-02-06
申请日 ：
2005-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·克拉克J·P·费茨格拉德S·J·泰勒R·B·特纳
申请人 ：
史密斯探测－沃特福特有限公司
申请人地址 ：
英国伦敦
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
温大鹏
优先权 ：
CN200580047388.X
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2012-01-18 ：
授权
2008-04-02 ：
实质审查的生效
2008-02-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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