X射线分析辅助设备和X射线分析设备

授权

摘要

根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。

基本信息

专利标题：

X射线分析辅助设备和X射线分析设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110383052A

申请号：

CN201880015532.9

公开（公告）日：

2019-10-25

申请日：

2018-01-25

授权号：

CN110383052B

授权日：

2022-05-03

发明人：

谷口弥生森川惠一

申请人：

株式会社理学

申请人地址：

日本东京

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

高文静

优先权：

CN201880015532.9

主分类号：

G01N23/201

IPC分类号：

G01N23/201 G01N23/207