用于X射线分析设备的样品安装系统
公开
摘要
本申请涉及用于X射线分析设备的样品安装系统。样品安装系统包括样品保持器和样品载物台，样品载物台具有用于支撑样品保持器的平台。样品可以通过安装件固定到样品保持器。样品保持器包括保持器参照部分，该保持器参照部分与样品载物台的对应参照部分(载物台参照部分)配合，以将样品保持器与样品载物台对准。当样品保持器被定位在平台上使得载物台参照部分和保持器参照部分彼此接合时，样品保持器与样品载物台对准。
基本信息
专利标题 ：
用于X射线分析设备的样品安装系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624268A
申请号 ：
CN202111509458.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
亚普·博克塞姆D·贝克尔斯
申请人 ：
马尔文帕纳科公司
申请人地址 ：
荷兰阿尔默洛
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈俞
优先权 ：
CN202111509458.6
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025 G01N23/046 G01N23/223 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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