用于X射线的样品保持器
授权
摘要
提供了用于X射线分析的样品保持器。用于保持用于X射线分析的毛细管(40)的样品保持器(2)具有位于纵向狭缝(12)一侧的基座部分(14)上的第一热传递构件(36)和位于另一侧的基座部分(16)上的第二热传递构件(38)。在框架(30)与基座部分(14、16)之间在横向方向上压紧热传递构件(36、38)，以促使第一热传递构件和第二热传递构件的边缘在一起，从而保持毛细管(40)与纵向狭缝(12)纵向地对齐。
基本信息
专利标题 ：
用于X射线的样品保持器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN107643308A
申请号 ：
CN201710593858.7
公开（公告）日 ：
2018-01-30
申请日 ：
2017-07-20
授权号 ：
CN107643308B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
V·科根D·贝克尔斯
申请人 ：
帕纳科有限公司
申请人地址 ：
荷兰阿尔默洛
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
郑宗玉
优先权 ：
CN201710593858.7
主分类号 ：
G01N23/201
IPC分类号 ：
G01N23/201
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射，例如小角X射线散射
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2019-03-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/201
申请日 : 20170720
申请日 : 20170720
2018-03-09 ：
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 23/201
变更事项 : 申请人
变更前 : 帕纳科有限公司
变更后 : 马尔文帕纳科公司
变更事项 : 地址
变更前 : 荷兰阿尔默洛
变更后 : 荷兰阿尔默洛
变更事项 : 申请人
变更前 : 帕纳科有限公司
变更后 : 马尔文帕纳科公司
变更事项 : 地址
变更前 : 荷兰阿尔默洛
变更后 : 荷兰阿尔默洛
2018-01-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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