一种X射线衍射样品架
专利权的终止
摘要

本实用新型提供了一种X射线衍射样品架,该X射线衍射样品架包括样品台,该样品台上设置有样品孔,其中,所述X射线衍射样品架还包括支撑件,在使用时,所述支撑件位于所述样品孔内。按照本实用新型提供的X射线衍射样品架,在传统样品台的基础上,添加了支撑件。当需要对薄片状样品进行测试时,可以将该薄片状样品放置在支撑件上,这样,薄片状样品和支撑件一起组成块状体,完全适用于传统样品台对待测样品的要求,从而实现便于对薄片状样品进行测试的本实用新型的目的。而且不需对传统的样品台进行任何改造。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射样品架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720174416.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-24
授权号 :
CN201096732Y
授权日 :
2008-08-06
发明人 :
陈靖华李成章江林
申请人 :
比亚迪股份有限公司
申请人地址 :
518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
王凤桐
优先权 :
CN200720174416.0
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2016-10-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101683114133
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2007201744160
申请日 : 20070824
授权公告日 : 20080806
终止日期 : 20150824
2008-08-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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