一种X射线衍射仪用样品台
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摘要

本实用新型提供了一种X射线衍射仪用样品台,包括支撑台,在支撑台上设置有样品槽,样品槽中布置有样品托盘,支撑台上还设置有安装槽,安装槽位于样品槽的旁侧,在安装槽中设置有电热膜加热件,使得电热膜加热件能够通过热辐射的方式对样品托盘上的待测样品进行加热,从而实现对待测样品进行温度调节;在使用该样品台时,将待测样品放置在样品托盘之中,然后将支撑台支撑放置在X射线衍射仪中,在通过X射线衍射仪对待测样品进行测试时,电热膜加热件能够通过热辐射的方式对待测样品进行加热,以对待测样品进行温度调节,从而能够测试不同温度下待测样品的性能,使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921445191.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-02
授权号 :
CN210834723U
授权日 :
2020-06-23
发明人 :
王洋范广新罗成果刘宝忠冯艳艳朱林剑江文亮肖俊王潇涵刘泽萍
申请人 :
焦作伴侣纳米材料工程有限公司;河南理工大学
申请人地址 :
河南省焦作市中站区焦克路中段
代理机构 :
郑州睿信知识产权代理有限公司
代理人 :
贾东东
优先权 :
CN201921445191.7
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2020-06-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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