一种X射线衍射仪用样品台
授权
摘要

本实用新型提供了一种X射线衍射仪用样品台,属于样品台技术领域。该一种X射线衍射仪用样品台,包括样品台本体和台面清理组件以及粉料收集组件。所述台面清理组件包括支架、电动推杆Ⅰ、电动推杆Ⅱ和推板,所述支架连接至所述样品台本体外侧,所述电动推杆Ⅰ连接至所述支架内顶部,所述电动推杆Ⅱ连接至所述电动推杆Ⅰ末端,所述推板连接至所述电动推杆Ⅱ尾端,所述推板上粘固有橡胶刮板,所述粉料收集组件包括收集屉和密封橡胶垫,所述样品台本体上开设有开口槽,所述收集屉与所述开口槽滑接。本实用新型使用时,方便快速收集粉末状样品,并快速进入下一粉末状样品的检测,提升了样品检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021093151.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-12
授权号 :
CN212622328U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
王皓亮王志军
申请人 :
天津迈特赛思科技有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区工华道壹号D座2门1101、1102、1103、1104、1105
代理机构 :
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 :
郭娜
优先权 :
CN202021093151.3
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  G01N23/20025  G01N23/2005  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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