一种X射线衍射仪用可控低温样品台
授权
摘要
本实用新型提供一种X射线衍射仪用可控低温样品台，包括样品平台和样品罩，其特征在于：所述样品罩内壁一侧上下对称设有温度感应装置，多个所述温度感应装置居中位置设有温控装置，所述样品罩远离温控装置方向设有换气扇，所述换气扇可拆卸连接样品罩，所述样品罩下方侧面对称焊接两组固定装置，所述样品台下方设有机械平台，所述固定装置螺旋连接机械平台。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线衍射仪用可控低温样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022391126.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
CN214374413U
授权日 ：
2021-10-08
发明人 ：
胡亚红陈阳明
申请人 ：
上海晓创检测技术有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区庄行镇安东路309号第23幢5层
代理机构 ：
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张静
优先权 ：
CN202022391126.X
主分类号 ：
G01N23/20033
IPC分类号 ：
G01N23/20033
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2021-10-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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