X射线衍射仪块状样品架

授权

摘要

X射线衍射仪块状样品架，涉及大型仪器测试领域，适用于岛津衍射仪。整体结构分为三个部分：表层部分、连接立柱部分、基底部分；表层部分由插片、测量基准面构成，两者在同一个平面上；基底部分由基底组成；中央为立柱，立柱的顶与测量基准面连接，立柱的底与基底连接；表层的插片在使用过程中插于衍射仪的样品夹中，通过插片使样品架与衍射仪相连、且固定样品架相对于衍射仪的位置；测量基准面、立柱、基底构成一个容纳样品的容器，样品置于其中，橡皮泥置于样品之下。此样品架能够协助具有一个完好平面的固体样品方便地安放在衍射仪上；并能在安放之前调整好待测面，一旦放好即待测面自动对准光斑位置，实现了其方便快捷性。

基本信息

专利标题：

X射线衍射仪块状样品架

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920953312.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-24

授权号：

CN210775286U

授权日：

2020-06-16

发明人：

汤云晖

申请人：

北京工业大学

申请人地址：

北京市朝阳区平乐园100号

代理机构：

北京思海天达知识产权代理有限公司

代理人：

刘萍

优先权：

CN201920953312.2

主分类号：

G01N23/20025

IPC分类号：

G01N23/20025