一种X射线衍射样品台
授权
摘要

本实用新型提供了一种X射线衍射样品台,涉及X射线衍射测量技术领域,该X射线衍射样品台包括载物台、密封垫圈、密封盖和多个固定连接件,载物台上开设有用于容置样品的载物槽,密封垫圈围设在载物槽的四周,密封盖盖设在载物槽上,多个固定连接件设置在载物槽的四周并依次穿过密封盖和载物台,密封盖通过多个固定连接件与载物台可拆卸连接并压合在密封垫圈上,以使密封盖与载物槽之间形成密封腔。相较于现有技术,本实用新型提供的一种X射线衍射样品台,密封效果好,结构稳定,且不易与样品接触,保证测试数据的准确性,安装方便同时样品装载与回收更加方便。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020990780.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-02
授权号 :
CN212180660U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
高磊李帅赵予生
申请人 :
深圳市合众清洁能源研究院;南方科技大学
申请人地址 :
广东省深圳市福田区保税区长富金茂大厦1号楼2112
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
杨鹏
优先权 :
CN202020990780.X
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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