一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架
授权
摘要
本实用新型涉及一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架，包括样品盘和转接盘，所述样品盘上阵列排布有多个通孔；所述样品盘可拆地设置于转接盘上表面，所述转接盘可拆的连接于X射线衍射仪X/Y轴样品台；本实用新型适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架，通孔的贯穿结构能实现反装制样；凸出台阶圈一方面固定载样片，另一方面作为隔断也能进一步避免填装待测样品时发生粉末相互污染；子样品盘与样品盘配合能产生凸出台阶圈的结构效果，便于加工。
基本信息
专利标题 ：
一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020414219.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN212379315U
授权日 ：
2021-01-19
发明人 ：
孙波庄敏
申请人 ：
广州阳瑞仪器科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区仑头路78号自编A03号楼127号（仅限办公用途）
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020414219.7
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-01-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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