一种X射线衍射仪用样品台、其应用和X射线衍射仪
授权
摘要

本发明公开了一种X射线衍射仪用样品台、其应用和X射线衍射仪,涉及X射线衍射仪领域。该X射线衍射仪用样品台,其包括样品台骨架和无定型结构膜,样品台骨架的顶部与无定型结构膜的底面连接以支撑无定型结构膜,样品台骨架的一侧用于插设于X射线衍射仪内。本申请提供的X射线衍射仪用样品台使用方便,价格便宜,不影响原有的实验模式,测量背景低,使得只有少量材料样品的测量成为了可能且测试数据准确可靠。此外,本申请还提供了上述X射线衍射仪用样品台在X射线衍射仪中用于对薄膜材料、粉末量少材料的样品进行测试的应用。该X射线衍射仪包括上述X射线衍射仪用样品台。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用样品台、其应用和X射线衍射仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110887856A
申请号 :
CN201911066181.7
公开(公告)日 :
2020-03-17
申请日 :
2019-11-04
授权号 :
CN110887856B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
李海峰吴思朱英浩
申请人 :
澳门大学
申请人地址 :
中国澳门凼仔大学大马路澳门大学
代理机构 :
成都超凡明远知识产权代理有限公司
代理人 :
王晖
优先权 :
CN201911066181.7
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-04-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20025
申请日 : 20191104
2020-03-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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