X射线衍射仪
授权
摘要

本申请实施例提供了一种X射线衍射仪,该X射线衍射仪包括:测角仪主板、X射线管的固定装置、探测器和样品驱动系统;所述X射线管的固定装置、探测器和样品驱动系统固定在所述测角仪主板上。该X射线衍射仪结构简单,重量轻,非常适用于样品的现场检测,同时保证了整体机械结构的牢固和稳定。本实用新型设计的衍射仪结构简单,体积小巧,可以将整个衍射仪小型和便携化。测试分析可以被方便地在取样现场进行,可以快速的获得结果,对采矿、考古、刑侦等领域非常实用。

基本信息
专利标题 :
X射线衍射仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021645272.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-10
授权号 :
CN213041762U
授权日 :
2021-04-23
发明人 :
侯燕
申请人 :
侯燕
申请人地址 :
北京市海淀区华清嘉园小区16楼1908号
代理机构 :
北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王庆彬
优先权 :
CN202021645272.4
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  G01N23/20008  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2021-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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