原位同步辐射X射线衍射测定装置
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摘要

本实用新型公开了一种原位同步辐射X射线衍射测定装置,用于检测纳米晶水热制备过程晶相结构,包括毛细管支架、毛细管、钢瓶、压力控制器、量角仪、空气加热器、热电偶、温度控制器、同步辐射光束、探测器。毛细管支架为T形,其一端出口固定毛细管;另一端连接钢瓶对毛细管加压。毛细管支架T形底部为底座,用于将毛细管支架固定在量角仪上。空气加热器放置于毛细管下方进行加热,紧贴毛细管外壁下方放置热电偶,测量和调节空气加热器加热温度。同步辐射X射线光束辐照在毛细管被加热部分,产生衍射信号采用探测器检测。该装置可原位、实时、在线、高通量的表征纳米晶材料合成过程中晶相转变过程,为深入、全面认识结晶生长过程提供有用信息。

基本信息
专利标题 :
原位同步辐射X射线衍射测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921579276.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-23
授权号 :
CN211785232U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
张良苗刘德余
申请人 :
上海大学
申请人地址 :
上海市宝山区上大路99号
代理机构 :
上海上大专利事务所(普通合伙)
代理人 :
顾勇华
优先权 :
CN201921579276.4
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  G01N23/20033  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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