一种原位X射线衍射与X射线荧光联用的样品池
授权
摘要
本实用新型公开了一种原位X射线衍射与X射线荧光联用的样品池，涉及电化学技术领域。所述样品池，包括正极盖、绝缘腔体、负极盖以及弹性件，绝缘腔体的凸台与正极盖的凹槽配合，负极盖的凸台与绝缘腔体的内腔配合，零部件少，装配工艺简单，且整个样品池的结构更为紧凑，绝缘腔体的密封性更好；正极盖与绝缘腔体之间、负极盖与绝缘腔体之间、以及垫块与绝缘腔体之间均进行了密封设计，保证了绝缘腔体内优异的密封性，提高了电池循环性能。
基本信息
专利标题 ：
一种原位X射线衍射与X射线荧光联用的样品池
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921890229.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN211206310U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
陈香陈文昊李志娟刘泉杨峰李侣
申请人 ：
湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市宁乡市高新技术产业园区金州北路001号
代理机构 ：
长沙正奇专利事务所有限责任公司
代理人 ：
郭立中
优先权 ：
CN201921890229.1
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025 G01N23/2204 G01N23/223 G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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