一种X射线衍射分析用旋转样品台
授权
摘要

本实用新型公开了一种X射线衍射分析用旋转样品台,包括卡接架和连接架,卡接架由卡接板和由卡接板左右两侧边沿向前部延伸形成的两个卡接条组成,连接架为后部开口的方形框体结构,且连接架的前部设有安装板,安装板上设有圆孔,卡接架和连接架之间通过螺栓连接,且卡接架和连接架之的螺栓上套接有弹簧,圆孔上安装有样品架,样品架的底部设有连杆,连杆穿过圆孔,安装板的下表面上安装有驱动装置,连杆与驱动装置连接,样品架上安装有载物台,载物台位于卡接条之间,本实用新型克服了现有技术的不足,该旋转样品台能够适应垂直型测角仪中的旋转测试的分析环境,同时在常规的分析角度范围内避免样品台的其他部分产生干扰信号,提升了测试效果。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射分析用旋转样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122442454.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-11
授权号 :
CN216433951U
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
郭腾汪义波杜永新吴晶涌汪徐春
申请人 :
安徽科技学院
申请人地址 :
安徽省滁州市凤阳县东华路9号
代理机构 :
合肥中博知信知识产权代理有限公司
代理人 :
管秋香
优先权 :
CN202122442454.2
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-05-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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