高压X射线衍射仪
授权
摘要

本实用新型公开了高压X射线衍射仪,包括X射线发生器、X射线聚焦镜、针管、显微镜、X射线探测器、面探测器和样品调节台,所述X射线聚焦镜设置于X射线发生器上,所述针管一端设置于X射线聚焦镜上,所述针管的另一端为锥型结构,所述面探测器位于针管一侧,且位于X射线发生器发射的X射线的传输方向上,所述针管的锥型端朝向面探测器,所述样品调节台位于针管和面探测器之间,所述显微镜位于样品调节台的一侧。本实用新型能够用于高压粉末或单晶X射线衍射;可以保证样品到面探测器的距离不变,获得的衍射数据更加可信;可以保证照射在样品上的X射线尺寸最小,避免光斑过大,照射在封垫上;调节通过电动控制完成,实验人员远离X射线辐照。

基本信息
专利标题 :
高压X射线衍射仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021924917.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-04
授权号 :
CN212301375U
授权日 :
2021-01-05
发明人 :
郝雷明张晓李奇尧
申请人 :
合肥优纳珂科技有限公司;北京爱森伯特科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2栋C座901室
代理机构 :
徐州拉沃智佳知识产权代理有限公司
代理人 :
朱云丽
优先权 :
CN202021924917.8
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2021-01-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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