两用X-射线双晶衍射仪

专利权的终止未缴年费专利权终止

摘要

本实用新型属于物化专业测量仪器，特别是用于测量晶体结构的测量仪器领域，本实用新型提供一种具有双功能的，即普通和全反射通用的X-射线单晶衍射仪。该仪器推出一种新的控制光掠入射角的独特方法，即在单色器后的光阑(2)和样品台(5)分别具有垂直移动机构，实现掠射角和Bragg角相互独立地调节控制。仪器调整使用方便。该仪器由光阑系统、单色器、样品台、探测器以及样品台和探测器的转动系统等九大部分组成，而不使用位敏探测器，使得仪器结构简单，成本低，从而使掠入射法能够普及和实际应用。

基本信息

专利标题：

两用X-射线双晶衍射仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN90206793.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

1990-05-24

授权号：

CN2077546U

授权日：

1991-05-22

发明人：

崔树范

申请人：

中国科学院物理研究所

申请人地址：

北京市603信箱

代理机构：

中国科学院物理研究所专利办公室

代理人：

高存秀

优先权：

CN90206793.1

主分类号：

G01N23/20

IPC分类号：

G01N23/20