一种X射线衍射数据采集系统
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种X射线衍射数据采集系统,它包括计算机、控制电路、测角仪、探测器、定标器、信号处理系统及X射线窗,计算机、信号处理系统、X射线窗、测角仪与控制电路相连;探测器置于测角仪上,其与信号处理系统相连;定标器置于测角仪上,其与控制电路相连。控制电路包括单片机、用于记录X射线光子数的计数器等器件。本实用新型采用高精度的步进电机,可控性好、定位精度高,本实用新型具有常规X射线衍射检测与分析功能,由于增加了控制电路,从而使系统实现了由计算机实时控制的微机化测试,提高了工作效率及质量。
基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射数据采集系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720103683.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-02-28
授权号 :
CN201016944Y
授权日 :
2008-02-06
发明人 :
王超群胡广勇江超华纪红
申请人 :
北京有色金属研究总院
申请人地址 :
100088北京市新街口外大街2号
代理机构 :
北京北新智诚知识产权代理有限公司
代理人 :
张卫华
优先权 :
CN200720103683.9
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20 G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2017-03-29 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101709171982
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2007201036839
申请日 : 20070228
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101709171982
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2007201036839
申请日 : 20070228
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 无
2016-06-22 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101734479178
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2007201036839
登记生效日 : 20160601
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京有色金属研究总院
变更后权利人 : 国标(北京)检验认证有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100088 北京市新街口外大街2号
变更后权利人 : 101407 北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号
号牌文件序号 : 101734479178
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2007201036839
登记生效日 : 20160601
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京有色金属研究总院
变更后权利人 : 国标(北京)检验认证有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100088 北京市新街口外大街2号
变更后权利人 : 101407 北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号
2008-02-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201016944Y.PDF
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